耐電壓測(cè)試儀在應(yīng)用中的測(cè)試優(yōu)點(diǎn)

耐電壓測(cè)試儀在應(yīng)用中的測(cè)試優(yōu)點(diǎn)

為什么要進(jìn)行耐電壓測(cè)試

電介質(zhì)強(qiáng)度測(cè)試, 亦稱hi-pot 測(cè)試, 大概是zui多人知道的和經(jīng)常執(zhí)行的生產(chǎn)線安全測(cè)試。實(shí)際上，表明它的重要性是每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的一部分。 hi-pot 測(cè)試是確定電子絕緣材料足以抵抗瞬間高電壓的一個(gè)非破壞性的測(cè)試。

這是適用于所有設(shè)備為保證絕緣材料是足夠的一個(gè)高壓測(cè)試。

進(jìn)行hi-pot 測(cè)試的其它原因是, 它可以查出可能的瑕疵譬如在制造過程期間造成的漏電距離和電氣間隙不夠。

進(jìn)行型式測(cè)試的時(shí)候, hi-pot 測(cè)試是在某些測(cè)試（譬如失效, 潮態(tài)及振動(dòng)測(cè)試）之后進(jìn)行來確定是否因?yàn)檫@些測(cè)試造成絕緣的退化。但是，日常生產(chǎn)進(jìn)行的hi-pot 測(cè)試, 是制造過程中的測(cè)試來確定是否所生產(chǎn)的產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)是與型式測(cè)試所用產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)相同。

一些由生產(chǎn)流程造成的缺陷可以通過在線hi-pot 測(cè)試檢查出來，例如, 變壓器繞組電氣間隙和爬電距離減小。

這樣的故障可能起因于繞線部門的一名新操作員。

其它例子包括檢查絕緣材料的孔瑕疵或發(fā)現(xiàn)一個(gè)過大的焊點(diǎn)。

大多數(shù)安全標(biāo)準(zhǔn)使用2xU + 1000 V 的慣例作為基本的絕緣材料測(cè)試的依據(jù), 這里的U 是操作電壓（rms值）。

這個(gè)慣例僅僅作為一個(gè)指導(dǎo), 對(duì)于個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)特別是IEC 60950 提供了一個(gè)具體的表格來定義根據(jù)測(cè)量到的實(shí)際工作電壓來確定確切的測(cè)試電壓1.至于使用1000 V 作為基本慣例的原因是產(chǎn)品的絕緣材料在日常使用中可能承受瞬間過電壓。

實(shí)驗(yàn)和研究表示, 這些過電壓通常高達(dá)1000 V 。

耐電壓測(cè)試儀測(cè)試方法：

高壓通常是應(yīng)用的在橫跨被測(cè)試絕緣材料的二個(gè)部件之間, 譬如測(cè)試設(shè)備（EUT）的一次側(cè)電路（Primary Circuit）和金屬外殼。

如果絕緣材料在兩個(gè)部件之間是足夠的, 那么加在兩個(gè)由絕緣體分離的導(dǎo)體之間的大電壓只能產(chǎn)生非常小的電流流過絕緣體。

雖然這個(gè)小電流是可接受的, 但是空氣絕緣或固體絕緣不應(yīng)該發(fā)生擊穿。

因此, 需要注意這個(gè)電流是因?yàn)榫植糠烹娀驌舸┑慕Y(jié)果, 而不是由于電容聯(lián)結(jié)引起的。

另外一個(gè)例子是對(duì)介于電源的一次（Primary）和二次（Secondary）電路之間的絕緣材料進(jìn)行測(cè)試。

這時(shí)所有輸出短接在一起。

耐壓測(cè)試儀的接地探針與短接在一起的輸出相連, 同時(shí)高壓探針與L 和N連接（L和N短接） (參見圖1) 。在hi-pot 測(cè)試期間EUT 不工作。

必須注意, 在進(jìn)行型式測(cè)試期間, 理想的情況是先加低于規(guī)定的電壓的1/2, 然后逐漸上升，并且在10 秒中達(dá)到規(guī)定電壓，并且維護(hù)1 分鐘。

然而，大多數(shù)測(cè)試儀器, 直接輸出規(guī)定電壓或使用一個(gè)電子控制線路來實(shí)現(xiàn)電壓的爬升。

耐電壓測(cè)試儀測(cè)試持續(xù)時(shí)間：

如果測(cè)試是代表認(rèn)證過程的一部分, 那么測(cè)試持續(xù)時(shí)間必須是所使用的安全標(biāo)準(zhǔn)相符合。

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