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講解絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確因素
點(diǎn)擊次數(shù)：461 更新時(shí)間：2023-07-20
講解絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確因素
1、電池電壓不足。電池電壓欠壓過(guò)低，造成電路不能正常工作，所以測(cè)出的讀數(shù)是不準(zhǔn)確的。
2、測(cè)試線接法不正確。誤將"L"、"G"、"E"三端接線接錯(cuò)，或?qū)?G"、"L"連線"G"、"E"連線接在被測(cè)試品兩端。
3、"G"端連線未接。被測(cè)試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差，造成測(cè)試不準(zhǔn)確，此時(shí)必須接好"G"端連線防止泄漏電流引起誤差。
4、干擾過(guò)大。如果被測(cè)試品受環(huán)境電磁干擾過(guò)大，造成儀表讀數(shù)跳動(dòng)?；蛑羔樆蝿?dòng)。造成讀數(shù)不準(zhǔn)確。
5、人為讀數(shù)錯(cuò)誤。在用指針式絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量時(shí)，由于人為視角誤差或標(biāo)度尺誤差造成示值不準(zhǔn)確。
6、儀表誤差。儀表本身誤差過(guò)大，需要重新校對(duì)。
數(shù)字絕緣電阻測(cè)試儀系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)
數(shù)字絕緣電阻測(cè)試儀系統(tǒng)主要由高壓電源、AD變換電路、微處理器電路、顯示器電路等組成。圖l所示是系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。文中主要講述高壓電源部分的設(shè)計(jì)。
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